ออกจากระบบ
เข้าสู่ระบบ
หรือ
สมัครสมาชิก
เข้าสู่ระบบ
ชื่อผู้ใช้:
รหัสผ่าน:
ลืมรหัสผ่าน ?
ก
ก
ก
iOPAC
ค้นหา
ข่าวสาร
ข้อมูลสมาชิก
ยืมต่อ
ค่าปรับ
สถิติ
รายงาน
ช่วยเหลือ
คู่มือ
ปิด
ข้อมูลบรรณานุกรม
#1072419
แบบย่อ
|
แบบเต็ม
|
MARC
ตัวอย่าง
เพิ่มแท็ก
เพิ่มรายการ
แบ่งปัน
แนะนำ
สั่งซื้อ
บันทึก
ส่งออก
Citation
ความนิยม
ประเภทวัสดุ
หนังสือ
ชื่อเรื่อง
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton
Dewey Call #
570.282 Eg-P
ผู้แต่ง
Egerton, Ray F.
หัวเรื่อง
ELECTRON MICROSCOPY
ISBN
9780387258003
พิมพลักษณ์
New York : Springer, 2007
ชื่อเรื่อง
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton
Dewey Call #
570.282 Eg-P
ผู้แต่ง
Egerton, Ray F.
ISBN
9780387258003
พิมพลักษณ์
New York : Springer, 2007
หัวเรื่อง
ELECTRON MICROSCOPY
ลักษณะทางกายภาพ
202 p. : ill.
LDR
00000nam 2200000 4500
008
080922s2007 xx
020
__
‡a9780387258003
040
__
‡aSongkhla Rajabhat University
082
04
‡a570.282‡bEg-P
100
0_
‡aEgerton, Ray F.
245
10
‡aPhysical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /‡cRay F. Egerton
260
__
‡aNew York :‡bSpringer,‡c2007
300
__
‡a202 p. : ill.
650
_7
‡aELECTRON MICROSCOPY
850
__
‡aSKRU
ทรัพยากร
เลือกห้องสมุด :
ทั้งหมด
วิทยาเขตสตูล
สำนักวิทยบริการและเทคโนโลยีสารสนเทศ มหาวิทยาลัยราชภัฏสงขลา
บาร์โค้ด
เลขหมู่/เล่มที่
Collection
ห้องสมุดสาขา
สถานที่จัดเก็บ
สถานะ
E19679
570.282 Eg-P
English Book
สำนักวิทยบริการและเทคโนโลยีสารสนเทศ มหาวิทยาลัยราชภัฏสงขลา
อ.บรรณราชนครินทร์ ชั้น 5
อยู่บนชั้น
จองทรัพยากร
สาขาที่รับ
วันที่คาดว่าจะรับ
ขอใช้หนังสือด่วน
เงื่อนไข
1. ส่งคำขอเวลา 8.30-11.00น รับหนังสือเวลา 16.00น.
2. ส่งคำขอหลังเวลา 11.00น. รับหนังสือในวันทำการถัดไป
3. ส่งคำขอ วันศุกร์ช่วงบ่าย หรือ วันเสาร์-อาทิตย์ รับหนังสือวันจันทร์ 16.00น.
4. ติดต่อรับหนังสือด่วนได้ที่ เคาน์เตอร์บริการยืม-คืน ชั้น 3 *ภายใน 3 วัน*
ติดต่อสอบถามข้อมูลเพิ่มเติม โทร. 2352
ความเห็น
|
บทวิเคราะห์
เพิ่มความเห็น
ชื่อของคุณ
ความเห็น
เพิ่มบทวิเคราะห์
ชื่อของคุณ
เนื้อหา
เพิ่มรายการ
ชื่อเรื่อง
สร้างใน
เก็บในโฟลเดอร์เดียวกันทุกรายการ
สร้างโฟลเดอร์
ชื่อโฟลเดอร์
ผลลัพธ์การเพิ่มรายการ
แบ่งปัน
แบ่งปันให้กับเพื่อนทั้งหมด
เพิ่ม Tag
สร้าง Tag ใหม่
แผนที่ตั้งทรัพยากร
Preview Dialog
Citation
อ้างอิง APA เวอร์ชัน 7
Egerton, R. F.. (2007).
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM .
New York :Springer
อ้างอิง MLA เวอร์ชัน 9
Egerton, R. F..
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM .
New York :Springer, 2007.
อ้างอิง Chicago เวอร์ชัน 17
Egerton, R. F.. 2007.
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM .
New York :Springer.
อ้างอิง Vancouver เวอร์ชัน 2
Egerton, R. F.. Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM . New York :Springer; 2007.
สถิติ
อันดับการยืม / จากทั้งหมด
252/253
อันดับการใช้งานภายใน/จากทั้งหมด
ไม่มีการใช้งาน
คะแนน/ผู้โหวต
0.0/0
ใช้ล่าสุดเมื่อ
12/09/2562
จำนวนการยืม
1
เปิดดู (ครั้ง)
71
เพิ่มไปยังรายการ
0
สงวนลิขสิทธิ์ © 2555, มหาวิทยาลัยสงขลานครินทร์ สงวนสิทธิ์ทั้งหมด
ผลการทำงาน
Undefined result.